仪器名称：小角X射线衍射仪

仪器型号：SA

制造商名称：法国Xenocs

购置时间：2014年

放置地点：北区1#实验楼架空层002

仪器主要功能及描述：小角X射线散射技术(SAXS)主要用于研究材料的纳米结构。传统的X射线衍射技术(XRD)常用来表征纳米以下尺寸的有序结构。而在纳米材料领域，几十到上百纳米的结构是其研究的主要方向，而且测试的样品从溶液、液晶、凝胶、金属到聚合物固体等变化多端。其内部纳米结构可能是周期性的，也可能是无规排列的，这已经远远超出了XRD能够测试的尺度范围和样品种类，而这些恰恰是SAXS这种无损检测技术所擅长的领域。因此SAXS是分析统计性纳米结构所必需的工具之一。

主要技术指标：

X光管功率：30W;2-thetal角：小于3

测量范围：2-theta角:0.035-60度,

q值：0.0025-1-3.6-1,d

测量范围：0.2-250nm；

点光源为高通量微聚焦光源，强度非常高可以达到：10^9phon/s

仪器工作状态：正常

预约联系人：王老师